Закономерности ориентированной кристаллизации пленочных гетерофазных систем на основе Ag и Ni



Реферат:На атомном уровне установлены процессы формирования дефектной субструктуры при ориентированной кристаллизации аморфных пленок в гетеросистемах Ag/(001)Ni, Ag/(110)Ni, Ag/(111)Ni, Ni/(001)Ag, Ni(110)Ag, Ni(111)Ag в условиях изохронного отжига. Установлено влияние ориентации подложки, знака и величины размерного несоответствия гетеросистем на структуру, субструктуру и ориентационные соотношения при кристаллизации тонких пленок. Установлены механизмы компенсации размерного несоответствия исследуемых тонкопленочных гетеросистем. Обнаружено диффузионное перемещение атомов подложки и пленки через межфазную границу в системах Ag/(110)Ni, Ni/(110)Ag и монослой Ni/(001)Ag.
Автор: Березин Михаил Владимирович
Тип диссертации:1
Дата защиты:May 29, 2007
Количество страниц:132
Руководители: Косилов А.Т.
Оппоненты: Безрядин Н.Н.
Бугаков А.В.
Ключевые слова: